基于TDC的MVT高速采集方法研究

针对目前ADC采样存在的集成化、成本和功耗相互制约等问题,实现了一种基于TDC的多通道高速采样方法,精度不受ADC采样位宽限制,只与所用FPGA芯片的硬件参数和软件设计有关,且采样通道数只与可配置的LVDS口的数量和FPGA芯片资源大小相关。与传统ADC采样方法不同,首先,设计采集电路,用已知连续阈值信号作比较器阈值电压,TDC记录信号越过阈值时间获得采样点;其次,探究阈值信号和比较器对采样信号的影响,统计各影响因素的误差并寻找最优解;最后,总结采样规律并分析其适用性。