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用于KrF准分子激光光刻的衰减相移掩模
引用本文:孙方,侯德胜,冯伯儒,张锦.用于KrF准分子激光光刻的衰减相移掩模[J].光电工程,2000,27(5).
作者姓名:孙方  侯德胜  冯伯儒  张锦
基金项目:中国科学院重点项目,中国科学院光电技术研究所资助项目,国家重点实验室基金
摘    要:讨论了相移掩模提高光刻分辨力的基本原理,提出了一种抗蚀剂相移器制作衰减相移掩模的新方法,利用自行设计、建立的KrF准分子激光投影光刻实验曝光系统进行了实验研究,给出了实验结果,并与传统光刻方法作了比较.

关 键 词:准分子光刻  相移掩模  图形分辨力

The Attenuated Phase-Shifting Mask for KrF Excimer Laser Photolithography
SUN Fang,HOU De-sheng,FENG Bo-ru,ZHANG Jin.The Attenuated Phase-Shifting Mask for KrF Excimer Laser Photolithography[J].Opto-Electronic Engineering,2000,27(5).
Authors:SUN Fang  HOU De-sheng  FENG Bo-ru  ZHANG Jin
Abstract:
Keywords:
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