| 基于遗传算法的转移阻抗测试装置优化设计 |
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| 引用本文： | 雷震,蒋全兴. 基于遗传算法的转移阻抗测试装置优化设计[J]. 电波科学学报, 2007, 22(1): 69-72,112 |
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| 作者姓名： | 雷震 蒋全兴 |
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| 作者单位： | 东南大学机械工程系电磁兼容研究所,江苏,南京,210096;东南大学机械工程系电磁兼容研究所,江苏,南京,210096 |
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| 摘 要： | 提出了一种新的基于遗传算法的宽带电磁干扰(EMI)衬垫转移阻抗(TI)测试装置优化设计方法,获得了宽频带(0～2 GHz)下的等效电路.以测试装置结构所决定的分布参数(L、C1、C2)为优化对象,以输入阻抗为优化目标,建立了衬垫测试系统的目标函数;优化前后输入阻抗理论值比较表明:采用优化的测试装置进行测试,输入阻抗误差显著减小,并且这一结论在通常意义下都有效.
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| 关 键 词： | 衬垫转移阻抗 电路模型 遗传算法 多目标优化 |
| 文章编号： | 1005-0388（2007）01-0069-05 |
| 收稿时间： | 2005-08-24 |
| 修稿时间： | 2005-08-24 |
Optimization design of transfer impedance testing device |
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| LEI Zhen,JIANG Quan-xing. Optimization design of transfer impedance testing device[J]. Chinese Journal of Radio Science, 2007, 22(1): 69-72,112 |
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| Authors: | LEI Zhen JIANG Quan-xing |
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| Affiliation: | Research Institute of EMC , Department of Mechanical Engineering, Southeast University, Nanjing Jiangsu 210096, China |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | gasket transfer impedance circuit model GA multiple objective optimization |
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