射线照相常规工艺参数的合理化

结合探伤原理和工业生产实践，评述国外射线探伤典型标准中有关射线照相工艺参数的合理性。焦点集中在底片黑度和几何不清晰度的一则支规定值及其裂纹检出灵敏度的利害关系上。对于射线检验按Ug和Ui的关系划分三种等级的新建议，本文呼请国内同仁注意，并得出自己的验证数据，以便为国标的再修订奠定基础。