X射线荧光光谱法测定四氧化三锰中杂质含量 |
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引用本文: | 陈思学,骆艳华,王凡,王克玉.X射线荧光光谱法测定四氧化三锰中杂质含量[J].现代矿业,2009,25(4):86. |
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作者姓名: | 陈思学 骆艳华 王凡 王克玉 |
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作者单位: | 中钢集团安徽天源科技股份有限公司 |
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摘 要: | 采用两种不同的方式向四氧化三锰中准确加入不同含量的杂质元素,将四氧化三锰与杂质元素混合均匀后,采用标准加入内推法得到四氧化三锰中原杂质元素的含量,以此对四氧化三锰中的现有杂质含量进行校正,根据校正后的杂质含量建立测定四氧化三锰杂质含量的工作曲线。经对已知含量样品的测定表明,用自行配制的替代性标样制定的工作曲线法具有和化学法相当的准确度和精密度。
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关 键 词: | X荧光 四氧化三锰 杂质  |
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