低剂量率X射线辐射质的建立与仪器校准

辐射环境监测仪器的校准是评价仪器性能、保证量值准确可靠的重要方式。为了解决剂量仪表在低剂量率条件下的量值溯源问题，在X射线辐射场中通过进一步增加附加过滤的方式，建立了55 kV、70 kV、100 kV、170 kV和240 kV参考辐射质并测量其能谱，运用序蒙特卡罗程序EGS（Electron Gamma Shower）模拟各辐射质的能谱，计算出辐射质半值层及平均能量，模拟能谱与实测能谱的平均能量相对偏差不超过1.6%。利用大体积球形电离室完成参考点处空气比释动能率的测量，并对常用的辐射环境监测仪器进行了校准。结果表明：随着附加过滤的增加，剂量率逐渐减少，所建立的辐射质剂量率范围为606～4 451 nGy·h^-1，不确定度为6.0%（k=2）；高气压电离室、6150AD剂量率仪校准测量结果不确定度为7.0%（k=2）。