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杂志ISSN号
6H-SiC JFET 输出特性及其中子辐照模型
引用本文:
尚也淳,张义门,张玉明.6H-SiC JFET 输出特性及其中子辐照模型[J].核电子学与探测技术,2000,20(6):424-429.
作者姓名:
尚也淳
张义门
张玉明
作者单位:
西安电子科技大学微电子学研究所,西安
摘 要:
基于沟道调效应、串联电阻效应的考虑,首先建立了一个和实验室符合很好的6H-SiCJFET的模型,在该模型中采用了两种电离杂质模型和Caughey-Thomas方程,接着在分析中子辐照对SiC JFET电参数如电子浓度、迁移率、电阻率和空间电荷区密度影响的基础上,对SiC JFET在室温和300℃时的辐照响应进行了模拟。模拟结果和实验相符。
关 键 词:
SiC
JFET
输出特性
辐照响应
中子辐照模型
The electrical characteristics and neutron irradiation response model of 6H-SiC JFET
Abstract:
Keywords:
SiC JFET
neutron irradiation
electrical characteristics
radia tionresponse
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