基于改进C-V模型的外绝缘放电紫外图像特征量提取

为实现紫外(UV)成像技术检测绝缘子缺陷时产生的紫外图像中放电区域的自动准确分割,提出了一种基于改进Chan-Vese(C-V)模型的放电光斑提取方法。通过引入符号距离保持项、用水平集函数梯度的模替代Dirac函数以及简化模型参数来对现有C-V模型进行了改进,然后将其用于获取绝缘子表面放电紫外图像的放电光斑,并给出了基于常规边缘检测算子法、数学形态学的紫外图像分割结果。结果表明:改进后的C-V模型能更为快速准确地分割出紫外成像的目标光斑,且具有较好的抗干扰能力。与现有方法相比较,使用改进的C-V模型来提取放电光斑的准确度提高了5%,且对C-V模型中关键参数的依赖性较小,非常适合于紫外图像特征量的提取。研究结果可为输电线路外绝缘的有效检测提供重要依据。