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碳化硅电热元件制备工艺的优化
引用本文:张效华,李晓池.碳化硅电热元件制备工艺的优化[J].工业加热,2007,36(6):60-64.
作者姓名:张效华  李晓池
作者单位:西安交通大学,电子材料研究所,陕西,西安,710049;西安科技大学,材料科学与工程系,陕西,西安,710054;西安科技大学,材料科学与工程系,陕西,西安,710054
基金项目:陕西省工业攻关项目(2004K07d16)
摘    要:碳化硅由于它优异的热、机械及电阻率性能而被广泛用于加热元件。通过对SiC电热元件制备工艺的研究和制品性能的测试,找出最佳的素烧温度和最佳素烧填充料,并对比了单热源烧成和多热源烧成的温度场的特点,找出了烧成的最佳温度区域。测试实验产品的导电性能、抗压强度,使用X-射线粉末衍射仪对制品的物相进行分析,使用电子扫描显微镜对制品表面形貌、孔道结构与分布、晶体结构进行分析,确定影响碳化硅电热元件电性能的因素。

关 键 词:碳化硅电热元件  制备  结晶性能  电阻率  素烧
文章编号:1002-1639(2007)06-0060-05
收稿时间:2007-08-28
修稿时间:2007-08-30

The Optimized Preparation Process of Silicon Carbide Heating Element
ZHANG Xiao-hua,LI Xiao-chi.The Optimized Preparation Process of Silicon Carbide Heating Element[J].Industrial Heating,2007,36(6):60-64.
Authors:ZHANG Xiao-hua  LI Xiao-chi
Abstract:
Keywords:Silicon Carbide electro-heating Element  preparation  Crystal property  Electrical Resistivity  Biscuit firing
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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