含微网智能配网自愈过程过电压影响因素 |
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引用本文: | 胡军,蔡静文,何金良,张若兵,殷禹.含微网智能配网自愈过程过电压影响因素[J].高电压技术,2014(5). |
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作者姓名: | 胡军 蔡静文 何金良 张若兵 殷禹 |
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作者单位: | 清华大学电力系统及发电设备控制和仿真国家重点实验室;清华大学深圳研究生院;中国电力科学研究院; |
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基金项目: | 国家自然科学基金(50823001)~~ |
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摘 要: | 为了研究含微网的智能配网自愈过程过电压受不同因素影响的变化规律,针对短路故障下的这种过电压问题,搭建了含微网的智能配网仿真模型,选取一个故障位置与一种故障类型及对应的自愈过程作为研究内容,分别探讨了微网规模、配网规模和配网电缆长度等因素对过电压的影响。仿真结果表明:仿真系统的最大过电压随微网规模的扩大在整体上呈增大的变化趋势,随配网规模的扩大在整体上呈现减小的变化趋势,随配网电缆长度的增大则呈先减小后增大的变化趋势。仿真结果可作为实际系统针对性的过电压保护设计的参考依据。
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关 键 词: | 微网 智能配网 配网自愈 过电压 影响因素 PSCAD |
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