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| 用低能电子显微术观察薄膜生长的起始阶段 | |
| 摘 要： | 用低能电子显微术观察薄膜生长的起始阶段八十年代中期Ｂａｕｅｒ和Ｔｅｌｉｅｐｓ￣［１，２］改进了低能电子显微术，他们得到；反射式低能电子显微术的分辨率理论上可以达到２－３ｎｍ。但是，由于振动等因素的影响，实验上达到的横向分辨率为２０ｎｍ。他们用十几ｅＶ... |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
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