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Ga2O3氮化法合成GaN薄膜的研究
引用本文:殷立雄,王芬,杨茂举,黄艳. Ga2O3氮化法合成GaN薄膜的研究[J]. 陕西科技大学学报, 2006, 24(2): 50-53
作者姓名:殷立雄  王芬  杨茂举  黄艳
作者单位:陕西科技大学材料科学与工程学院,陕西咸阳712081
摘    要:采用Ga2O3与NH3在管式电炉中于高温常压下进行反应,并在硅基片上沉积GaN薄膜,研究了各种工艺参数如反应温度、NH3的流量、硅基片反应前后处理等因素对沉积GaN薄膜的影响,并通过SEM和AFM对生成物进行了分析。实验结果表明,在1125℃,NH3流量为26-30L/h时可在Si基片〈111〉面上沉积生成GaN薄膜。

关 键 词:GaN薄膜  氨气  管式炉
文章编号:1000-5811(2006)02-0050-04
收稿时间:2006-01-05
修稿时间:2006-01-05

SYNTHESIS OF GaN FILM BY NITRIDING PROCESSING OF Ga2O3
YIN Li-xiong,WANG Fen,YANG Mao-ju,HUANG Yan. SYNTHESIS OF GaN FILM BY NITRIDING PROCESSING OF Ga2O3[J]. Journal of Shaanxi University of Science & Technology(Natural Science Edition), 2006, 24(2): 50-53
Authors:YIN Li-xiong  WANG Fen  YANG Mao-ju  HUANG Yan
Abstract:
Keywords:Ga2O3
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