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不同Ⅴ/Ⅲ族元素比对m面GaN薄膜性能的影响?
引用本文:谭聪聪,彭冬生,陈志刚,刘毅,冯哲川.不同Ⅴ/Ⅲ族元素比对m面GaN薄膜性能的影响?[J].电子器件,2015(1).
作者姓名:谭聪聪  彭冬生  陈志刚  刘毅  冯哲川
作者单位:1. 深圳大学光电子器件与系统 教育部、广东省 重点实验室,广东 深圳,518060
2. 深圳大学师范学院,广东 深圳,518060
3. 国立台湾大学光电所暨电机系,中国 台北10617
基金项目:国家自然科学基金项目,深圳市科技计划项目,深圳大学应用技术开发项目,光电子器件与系统教育部重点实验室开放基金项目
摘    要:采用分子束外延( MBE)方法在蓝宝石衬底上外延生长m面GaN薄膜。利用原子力显微镜( AFM)、扫描电子显微镜( SEM)分析薄膜表面形貌,发现Ⅴ/Ⅲ族元素比从1∶80降低到1∶90时,外延膜表面均方根粗糙度从13.08 nm降低到9.07 nm。利用光谱型椭偏仪研究m面GaN薄膜,得到了m面GaN薄膜的厚度、折射率和消光系数。拟合结果显示,GaN样品厚度和理论值一致,且Ⅴ/Ⅲ族元素比为1∶90时,所得外延膜折射率较低,透射率大。两种测试方法表明,Ⅴ/Ⅲ族元素比较小的样品晶体质量高。

关 键 词:m面GaN  光学性能  分子束外延  表面形貌

Effects of Different Ⅴ/Ⅲ Ratios on the Properties of m-Plane GaN Crystal
TAN Congcong,PENG Dongsheng,CHEN Zhigang,LIU Yi,FENG Zhechuan.Effects of Different Ⅴ/Ⅲ Ratios on the Properties of m-Plane GaN Crystal[J].Journal of Electron Devices,2015(1).
Authors:TAN Congcong  PENG Dongsheng  CHEN Zhigang  LIU Yi  FENG Zhechuan
Abstract:
Keywords:m-plane GaN  optical properties  MBE  surface morphology
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