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| ICP—AES对铸铁中微量稀土元素La、Ce、Pr、Nd、Sm的测定——基体干扰及其校正方法讨论 | |
| 引用本文： | 马锦秋,王雁飞,吴跃英.ICP—AES对铸铁中微量稀土元素La、Ce、Pr、Nd、Sm的测定——基体干扰及其校正方法讨论[J].冶金分析,1987,7(1):1-1. |
| 作者姓名： | 马锦秋 王雁飞 吴跃英 |
| 作者单位： | 南开大学测试计算中心,南开大学测试计算中心,南开大学测试计算中心 |
| 摘 要： | 为了研究稀土元素对铸铁及钢材性能影响的机理,首先要解决在大量铁基体存在下单一稀土分量的准确测定问题。本文采用美国Jarrell—Ash TCAP—9000型光量计,对铸铁、钢材中La、Ce、Pr、Md、Sm、同时测定时,由于铁基体引起光谱干扰进行讨论,比较三种校正方法,即:离峰扣背景校正法;K系数校正法和溶液匹配校正法,并实验了铁基体对La、Ce、Pr、Nd、Sm |
| 关 键 词： | 校正方法 ICP—AES 微量稀土元素 基体干扰 铸铁 Fe浓度 待测元素 Fe基 铁基体 K系数 |
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