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基于MPI的全局并行遗传算法的SOI MOS器件模型参数提取
引用本文:宋文斌,韩郑生.基于MPI的全局并行遗传算法的SOI MOS器件模型参数提取[J].微电子学与计算机,2009,26(7).
作者姓名:宋文斌  韩郑生
作者单位:中国科学院,微电子研究所,北京,100029
摘    要:提出了将全局并行遗传算法应用于模型参数提取,并应用于标准的1.2μm CMOS/SOI工艺的SOI MOSFET器件,一次性提取BSIMSOI3模型主要的42个直流参数.实验结果表明,该方法不依赖参数初始值、精度高、效率高,降低了SOI模型参数提取工作的难度,具有很强的通用性,易于移植优化及数据拟合.

关 键 词:器件模型  参数提取  并行遗传算法  BSIMSOI模型  消息传递接口  全局优化策略

SOI MOSFET Model Parameter Extraction Based on Hybrid Parallel Genetic Algorithm
SONG Wen-bin,HAN Zheng-sheng.SOI MOSFET Model Parameter Extraction Based on Hybrid Parallel Genetic Algorithm[J].Microelectronics & Computer,2009,26(7).
Authors:SONG Wen-bin  HAN Zheng-sheng
Abstract:
Keywords:
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