可伐合金表面杂质分析 |
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引用本文: | 华中一,诸葛健,潘星龙.可伐合金表面杂质分析[J].真空科学与技术学报,1982(6). |
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作者姓名: | 华中一 诸葛健 潘星龙 |
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作者单位: | 复旦大学,复旦大学,复旦大学 |
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摘 要: | 用共振光电子出现电势谱(RPAPS)对真空封接用可伐合金的表面进行了分析,并与俄歇电子谱(AES)和X射线光电子谱(XPS)进行比较。发现RPAPS可容易地分辨出杂质锰和铬,而AES和XPS则不能。由此可见RPAPS可能是一种重要的分析合金表面杂质的工具。
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