固体钽电容器损耗变化的原因及工艺改进

作者在研制非密封超小型固体钽电解电容器中,发现试制的50V/2.2μF样品在常温储存一段时间后,损耗明显上升,损耗角正切值变化极大,已影响产品的使用。经过一系列试验和分析,找出了损耗角正切值变大的内在原因。改进生产工艺后,试制出的50V/2.2μF样品的损耗角正切值不变,电性能稳定。