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CSP芯片热应力分析
引用本文:谢劲松,钟家骐,李川,敬兴久. CSP芯片热应力分析[J]. 电子工业专用设备, 2005, 34(4): 32-34,42
作者姓名:谢劲松  钟家骐  李川  敬兴久
作者单位:电子科技大学机械电子工程学院,成都,四川,610054
摘    要:对CSP芯片热可靠性进行了研究。运用数值分析方法,采用有限元软件ANSYS8.0,模拟分析在循环热载荷条件下芯片的热应力,以及芯片可能的失效形式。

关 键 词:芯片尺寸封装(CSP)  芯片  有限元  应力
文章编号:1004-4507(2005)04-0032-03

Analysis of Thermal Stress of Chip in CSP
XIE Jing-song,ZHONG Jia-qi,LI Chuan,JING Xin-jiu. Analysis of Thermal Stress of Chip in CSP[J]. Equipment for Electronic Products Marufacturing, 2005, 34(4): 32-34,42
Authors:XIE Jing-song  ZHONG Jia-qi  LI Chuan  JING Xin-jiu
Abstract:In this paper, thermal reliability of chip in CSP was studied. Using numerical value analysis method and making use of ANSYS 8.0, thermal stress of the chip and possible invalidation of the chip in thermal cycle loading was simulated and analyzed.
Keywords:Chip Scale Package(CSP)  Chip  FEM  Stress
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