| 稳态热阻对大功率晶体管寿命试验的影响 |
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| 引用本文： | 刘砚君.稳态热阻对大功率晶体管寿命试验的影响[J].信息技术与标准化,2006(8):32-34. |
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| 作者姓名： | 刘砚君 |
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| 作者单位： | 中国电子技术标准化研究所 |
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| 摘 要： | 在进行相关分立器件分析时发现，稳态热阻对功率器件寿命试验结果影响较大。通过相关案例分析，提出稳态热阻的变化量应作为功率器件寿命试验合格判据之一的建议。
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| 关 键 词： | 热阻 稳态热阻 平均稳态热阻 峰值稳态热阻 |
| 收稿时间： | 2006-05-24 |
| 修稿时间： | 2006年5月24日 |
Influence on the Life Test of the Discrete Semiconductor Devices from Steady State Thermal Resistance |
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| Abstract: | The steady state thermal resistance has important influence on the life test by researching the discrete semiconductor devices. This paper suggests that the change of the steady state thermal resistance shouhl become one of the criterions of the life test |
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| Keywords: | thermal resistance steady state thermal resistance mean steady state thermal resistance peak steady state thermal resistance |
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