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| 向列相液晶层厚度的光学测量 | |
| 引用本文： | 陈垦,沈冠群,翁文泉.向列相液晶层厚度的光学测量[J].应用激光,1981(5). |
| 作者姓名： | 陈垦 沈冠群 翁文泉 |
| 作者单位： | 上海激光所，上海市激光技术研究所，上海市激光技术研究所 研究生 |
| 摘 要： | 液晶层的厚度对于液晶光阀的电光特性、响应时间等有重要影响。液晶层的标称厚度由介质垫圈决定。厚度测量的简便方法是测量液晶盒的空盒电容,从而求得盒厚。这样求得的是整个液晶盒中液晶层的平均厚度。我们采用光学干涉原理,对液晶空盒及各种取向的向列相液晶层厚度进行逐点精确测量。现将原理、 |
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