| 静态随机存取存储器辐射效应测试系统的研制 |
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| 引用本文： | 陈瑞,杨忱.静态随机存取存储器辐射效应测试系统的研制[J].核电子学与探测技术,2008,28(6). |
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| 作者姓名： | 陈瑞 杨忱 |
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| 作者单位： | 1. 兰州工业高等专科学校电气工程系,兰州,730050
2. 北京邮电大学电子工程学院,北京,100876 |
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| 摘 要： | 由于空间辐射效应会导致SRAM器件单粒子翻转、单粒子锁定等现象的产生。文中介绍了SRAM辐射效应测试装置的硬件、软件构成及有关测试技术。通过对SRAM芯片电流的检测、断电保护，解决了在SRAM实验过程中SRAM芯片的损坏问题，利用该装置在不同的辐射实验源上对SRAM进行辐射效应实验研究，获得了预期的实验数据。为星载计算机系统存储器的运行寿命评估及加固设计提供重要参考依据。
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| 关 键 词： | 静态随机存取存储器 辐射效应 单粒子翻转 单粒子锁定 测试系统 |
The manufacture of system for testing static random access memory radiation effect |
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| CHEN Rui,YANG Chen.The manufacture of system for testing static random access memory radiation effect[J].Nuclear Electronics & Detection Technology,2008,28(6). |
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| Authors: | CHEN Rui YANG Chen |
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