| 基于可测性分析的模拟电路多频测试矢量生成 |
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| 引用本文： | 王承,刘治国,叶韵,梁海浪,何进.基于可测性分析的模拟电路多频测试矢量生成[J].微电子学,2012,42(5):737-740. |
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| 作者姓名： | 王承 刘治国 叶韵 梁海浪 何进 |
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| 作者单位： | 1. 北京大学深港产学研基地深圳市系统芯片设计(SOC)重点实验室,广东深圳,518057
2. 工业和信息化部 电子第五研究所,广州,510610 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目，深圳市杰出青年项目 |
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| 摘 要： | 提出一种基于可测性分析的模拟电路多频测试矢量自动生成方法。根据待测电路可利用的测试点,进行测试点优选和模糊元器件确定,实现可测性分析;应用灵敏度分析,实现多频测试矢量自动生成。实验结果表明,该方法对模拟电路测试矢量生成非常有效,具有很强的实用性。
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| 关 键 词： | 可测性分析 模拟电路 多频测试矢量 故障诊断 |
Generation of Multi-Frequency Test Vector for Analog Circuits Based on Testability Analysis |
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| WANG Cheng
,
LIU Zhiguo
,
YE Yun
,
LIANG Hailang
,
HE Jin.Generation of Multi-Frequency Test Vector for Analog Circuits Based on Testability Analysis[J].Microelectronics,2012,42(5):737-740. |
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| Authors: | WANG Cheng LIU Zhiguo YE Yun LIANG Hailang HE Jin |
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| Affiliation: | 1(1.Shenzhen SOC Key Laboratory,PKU-HKUST Shenzhen-Hongkong Institution,Peking University,Shenzhen,Guangdong 518057,P.R.China; 2,China Electronic Product Reliability and Environmental Testing Research Institute,Guangzhou 510610,P.R.China) |
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| Abstract: | |
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