首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

低压沟槽功率MOSFET导通电阻的最优化设计
引用本文:陈力,冯全源.低压沟槽功率MOSFET导通电阻的最优化设计[J].微电子学,2012,42(5):725-728,732.
作者姓名:陈力  冯全源
作者单位:西南交通大学微电子研究所,成都,610031
基金项目:国家自然科学基金重大项目,国家高技术研究发展(863)计划基金资助项目
摘    要:研究了低压沟槽功率MOSFET(<100V)在不同耐压下导通电阻最优化设计的差别。给出了确定不同耐压MOSFET参数的方法,简要分析了沟槽MOSFET的导通电阻;利用Sentaurus软件对器件的电性能进行模拟仿真。理论和仿真结果均表明,耐压高的沟槽MOSFET的导通电阻比耐压低的沟槽MOSFET更接近理想导通电阻,并且,最优导通电阻和最优沟槽宽度随着耐压的提高而逐渐增大。

关 键 词:功率器件  MOSFET  沟槽  击穿电压  导通电阻

Optimal Design of On-Resistance for Low Voltage Trench Power MOSFET
CHEN Li , FENG Quanyuan.Optimal Design of On-Resistance for Low Voltage Trench Power MOSFET[J].Microelectronics,2012,42(5):725-728,732.
Authors:CHEN Li  FENG Quanyuan
Affiliation:(Institute of Microelectronics,Southwest Jiaotong University,Chengdu 610031,P.R.China)
Abstract:
Keywords:
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号