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| Agilent 93000上的高速信号测试模块BIST Assist 6.4 | |
| 作者姓名： | 徐润生 |
| 作者单位： | 安捷伦科技有限公司 |
| 摘 要： | 1高速芯片及其测试 高速串行差动信号的传输在芯片设计和应用领域得到了越来越广泛的重视.如图1所示,在PC总线结构里有2.5GHz的PCI Express,还有1.5GHz的S-ATA,未来即将升到3GHz.芯片组的工作要基于大量的数据交互.随着主频和处理能力的提高,对总线上数据传输速度提出了更高的要求. |
| 关 键 词： | Agilent 高速信号 测试模块 传输速度 数据交互 总线结构 能力 处理 主频 工作 芯片组 Express 应用 芯片设计 差动信号 高速串行 高速芯片 |
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