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伪随机测试生成在混合电路参数测试中的应用
引用本文:叶明军,颜学龙,雷加,郭学仁. 伪随机测试生成在混合电路参数测试中的应用[J]. 半导体技术, 2003, 28(9): 25-28
作者姓名:叶明军  颜学龙  雷加  郭学仁
作者单位:桂林电子工业学院电子工程系CAT研究室,广西,桂林,541004
摘    要:混合信号电路在通信、多媒体等领域获得越来越广泛的应用。然而,测试也变得更复杂。传统上对模拟电路的测试采用的是直接功能测试,即直接测量电路的性能参数Z。采用该测试方法,其缺点是测试时间长、测试设备昂贵、且精度差。本文针对这一问题进行研究,详细讨论了利用伪随机技术进行混合信号电路测试的方法。

关 键 词:混合电路  伪随机测试  多媒体
文章编号:1003-353X(2003)09-0025-04

Application of pseudorandom testing in mixed-signal circuits parameter test
YE Ming-jun,YAN Xue-long,LEI jia,GUO Xue-ren. Application of pseudorandom testing in mixed-signal circuits parameter test[J]. Semiconductor Technology, 2003, 28(9): 25-28
Authors:YE Ming-jun  YAN Xue-long  LEI jia  GUO Xue-ren
Abstract:MIXED-SIGNAL circuits are gaining popularity in various applications such astelecommunication, multimedia, etc. However, the testing problems are getting more complex.Traditionally, the analog circuit is tested by explicit functional testing: directly measured its perfor-mance parameter set Z. Long test application time and complicated test equipment are required. Thetechnology of pseudo-random to detect the mixed-signal circuits is disussed in details.
Keywords:mixed-signal circuits  pseudorandom testing  multimedia  
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