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Structure and refractive index of thin alumina films grown by atomic layer deposition |
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| Authors: | M. Tulio Aguilar-Gama Erik Ramírez-Morales Z. Montiel-González A. Mendoza-Galván Mérida Sotelo-Lerma P. K. Nair Hailin Hu |
| Affiliation: | 1. Instituto de Energías Renovables, Universidad Nacional Autónoma de México, 62580, Temixco, Morelos, Mexico 2. Cinvestav-IPN, Unidad Querétaro, Libramiento Norponiente 2000, 76230, Querétaro, Mexico 3. Universidad de Sonora, 83000, Hermosillo, Sonora, Mexico |
| Abstract: | |
| Keywords: | |
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