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杂志ISSN号
局部放电测试回路参数对测试的影响
作者姓名:
陈温良
作者单位:
西容室
摘 要:
电容器介质局部放电测试技术在我厂己有多年的实践。这几年有不少单位也着手搞局部放电测试工作。有关文献资料很多,但是对于测试技术基本原理的分析论证却十分匮乏。近几年我们对测试技术进行了一些摸索和探讨。在参考资料[2]中我们己对测试回路信号响应的基本关系进行了数学推导。本文则结合实际线路参数进一步分析回路参数对测试的影响。
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