| VLSI版图验证系统中参数提取方法的研究 |
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| 引用本文： | 胡庆生,林争辉. VLSI版图验证系统中参数提取方法的研究[J]. 微电子学与计算机, 1997, 0(3) |
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| 作者姓名： | 胡庆生 林争辉 |
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| 作者单位： | 上海交通大学大规模集成电路研究所!上海，200030，上海交通大学大规模集成电路研究所!上海，200030 |
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| 摘 要： | 本文研究了VLSI版图验证系统中电阻及电容提取的方法，总结了各种方法的优缺点，并给出了当前参数提取方面的研究动向和发展趋势。
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| 关 键 词： | VLSI－CAD 版图验证 参数提取 |
The Method of Parameter Extraction in VLSI Verification |
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| Hu Qingsheng and Lin Zhenghui. The Method of Parameter Extraction in VLSI Verification[J]. Microelectronics & Computer, 1997, 0(3) |
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| Authors: | Hu Qingsheng and Lin Zhenghui |
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| Abstract: | This paper researchs the methods of resistance and capacitance computation in VLSI layout verica tion. After comparing various methods, it gives the trend of development in this field. |
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| Keywords: | VLSI-CAD Layout verification Parameter extraction |
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