测量小位移的微波干涉仪

本文讨论了用来对电磁半透明介质中的小位移进行无接触测量的两种微波干涉仪系统,列出了检测这些系统的测试设备和测试结果。当天线和反射体之间的往返介质损耗低于60db时)系统的基本特性,即输出信号随反射体位移而变化,呈线性由于从测试体反射的信号与从天线反射的信号产生干涉之故,限制了物体的最大位移为在介质中的半个波长以内。