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| 基于机器视觉的薄膜晶点测定系统 | |
| 引用本文： | 宋建,周维星,张成耀.基于机器视觉的薄膜晶点测定系统[J].塑料工业,2022(3):155-159. |
| 作者姓名： | 宋建 周维星 张成耀 |
| 作者单位： | 1. 华南理工大学广东省高分子先进制造技术及装备重点实验室;2. 华南理工大学聚合物加工工程教育部重点实验室;3. 广州市普同实验分析仪器有限公司 |
| 基金项目： | 国家重点研发计划项目(2019YFB1704900)；;国家自然科学基金项目(11972023)； |
| 摘 要： | 晶点是薄膜上常见的一种过聚物缺陷，其存在对光学薄膜、电池薄膜等高端产品产生极大的危害，而人工目视检测容易导致漏检和误捡，因此，本文提出了一种基于机器视觉的薄膜晶点测定系统。该系统采用条纹背光源使晶点特征突显，在傅里叶变换后的频谱图中抑制条纹背景的频率，从而消除条纹背景得到晶点轮廓。对相机进行测量标定，用最小矩形拟合晶点轮廓，测量出晶点尺寸，测量精度可达0.017 mm。该系统实现对薄膜晶点的自动识别与测量，具有重要的工程应用价值和广阔的市场前景。 |
| 关 键 词： | 晶点测定 机器视觉 条纹光 傅里叶变换 |