摘 要: | 电子元器件产品在制造和实际应用中受三种干扰因素(内干扰:磨损、老化、退化等;外干扰:力学、热学、电磁兼容性、空间辐照等;物间干扰:加工工艺分散性等)影响,其质量分散性较大,这是制约我国元器件自主创新发展的主要技术瓶颈。本文提出一种元器件产品质量一致性稳健设计方法,在完成产品功能设计基础上,采用DOE方法,通过参数稳健设计和容差稳健设计,科学地确定和分配影响产品质量特性波动的关键设计参数(对主要性能参数波动影响显著)及其容差(或公差),可为元器件产品生产过程关键工序控制指标提供理论依据,从而大幅度提高元器件产品质量一致性指标。该方法是缩短我国电子元器件产品质量与国外差距的重要途径,对提升军用电子元器件国产化率和自主可控能力具有重要作用。
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