| 不同温度烧结的赝两元合金(PbTe)1-x(snTe)x电学性能 |
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| 作者姓名： | 崔教林 钱欣 赵新兵 |
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| 作者单位： | 1. 宁波高等专科学校机械系, 宁波 315016; 2. 浙江工业大学化工学院; 杭州 310014; 3。 浙江大学材料, 杭州 310027 |
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| 基金项目： | 浙江省自然科学基金,浙江省宁波市博士科研项目 |
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| 摘 要： | 首次采用粉末冶金法在大成分范围内制备了赝两元合金(PbTe)1-x(SnTe)x(x=0～1),并对其电学性能进行了系统地研究.实验发现:经550℃烧结后,随合金中SnTe摩尔分数x增大,合金的最大Seebeck系数值减小.当摩尔分数x≤0.6时,最大Seebeck系数所对应的温度逐渐升高;摩尔分数x>0.6时基本不变.当摩尔分数x=0.6时电导率达最大值.经高温烧结后两参数值也有类似的变化规律,但摩尔分数>0.2的各合金Seebeck系数值高于550℃烧结后的合金,电导率降低.从而得出:烧结温度对赝两元合金(PbTe)1-x(SnTe)x的综合电学性能影响不大.
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| 关 键 词： | 赝两元合金 粉末冶金 电学性能 摩尔分数 |
| 收稿时间： | 2002-05-15 |
| 修稿时间： | 2002-06-19 |
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