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| 500kV HGIS红外成像检漏及解体分析 | |
| 引用本文： | 张小平,薄鲁海,罗利云,王 鹏,吴冬文.500kV HGIS红外成像检漏及解体分析[J].电工技术,2016(10):53-54. |
| 作者姓名： | 张小平 薄鲁海 罗利云 王 鹏 吴冬文 |
| 作者单位： | 1. 国网江西省电力公司检修分公司,南昌,330029;2. 国网江西省电力科学研究院,南昌,330029 |
| 摘 要： | 通过对SF6组合电器进行红外检漏工作,可及时发现设备在设计、制造和安装等过程产生的砂眼渗漏现象,从而有效避免电网故障发生。针对某500kV变电站HGIS盆式绝缘子浇筑口SF6气体渗漏情况,介绍HGIS设备和红外检漏的基本情况、HGIS设备渗漏点现场处理方案,通过解体分析盆式绝缘子密封圈失效原因,为带电检测技术在SF6气体设备运维中的实际应用提供参考。 |
| 关 键 词： | HGIS 带电检测 红外检漏 解体分析 |
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