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室温无反应磁控溅射法制备ZAO导电薄膜及其特性研究
引用本文:许积文,王华,任明放,成钢.室温无反应磁控溅射法制备ZAO导电薄膜及其特性研究[J].电工材料,2007(2):15-18.
作者姓名:许积文  王华  任明放  成钢
作者单位:桂林电子科技大学,信息材料科学与工程系,广西桂林,541004
基金项目:广西高校百名中青年学科带头人项目
摘    要:以氧化铝(Al2O3)掺杂的ZnO陶瓷靶材为基础,室温下采用无氧直流磁控溅射法在载玻片衬底上制备了ZnO∶Al(ZAO)透明导电薄膜,研究了不同的Al2O3掺杂量对薄膜微观结构、电阻率和透光率性能的影响。结果表明:掺杂量大于1%(质量分数,下同)的薄膜均呈c轴择优取向生长,薄膜致密无裂纹,具有光滑表面;掺杂量对薄膜的电阻率影响显著,当掺杂量为3%时,薄膜的电阻率最小,仅为7.4×10-3Ω.cm;掺杂量对薄膜的透光性无明显影响,不同掺杂量的薄膜在可见光区的平均透光率接近90%。

关 键 词:直流磁控溅射  ZAO薄膜  电阻率  透光率
文章编号:1671-8887(2007)02-0015-04
修稿时间:2007-02-01

Properties of ZAO Films Prepared by Non-reactive DC Magnetron Sputtering at Room Temperature
XU Ji-wen,WANG Hua,REN Ming-fang,CHENG Gang.Properties of ZAO Films Prepared by Non-reactive DC Magnetron Sputtering at Room Temperature[J].Electrical Engineering Materials,2007(2):15-18.
Authors:XU Ji-wen  WANG Hua  REN Ming-fang  CHENG Gang
Affiliation:Department of Information Material Science and Engineering, Guilin University of Electronic Technology, Guilin 541004, China
Abstract:
Keywords:magnetron sputtering  ZAO thin film  resistivity  transmittance
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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