|
|||||
|
|
| X射线Φ扫描及其在高温超导薄膜分析中的应用 | |
| 作者姓名： | 常世安 陈岗峰 |
| 作者单位： | 北京有色金属研究总院 |
| 摘 要： | Ｘ射线φ扫描及其在高温超导薄膜分析中的应用常世安，陈岗峰，马平，杨坚，古宏伟，袁冠森（北京有色金属研究总院１０００８８）关键词：Ｘ射线衍射，高温超导薄膜Ｘ射线衍射仪的常规θ－２θ扫描只能对平行于试样表面特定晶面进行检测￣［１］．而无法区别是单晶、外延... |
| 关 键 词： | X射线衍射 高Tc 超导薄膜 薄膜 |
| 本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录！ | |
|
||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||||
|
|
|
|
| 设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏 |
|
Copyright©北京勤云科技发展有限公司 京ICP备09084417号 |