超导体低频交流损耗的测量

本文介绍了采用威尔逊(Wilson)电测法对多股细芯Nb-Ti超导体低频(0.01～0.5Hz)交流损耗进行的测量。得出了线圈型样品交流损耗与峰值磁场、励磁频率,材料扭矩,基体材料,细芯直径诸量间的依赖关系。分析了励磁速度对样品线圈最大场的影响。实验表明:结果与理论予言基本一致,数据重复性在90％以上,整个系统测量误差小于10％。