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化学还原石墨烯薄膜的制备及结构表征
引用本文:王艳春,曾效舒,魏嘉麒,敖志强,杨文庆.化学还原石墨烯薄膜的制备及结构表征[J].材料导报,2016,30(2):46-49.
作者姓名:王艳春  曾效舒  魏嘉麒  敖志强  杨文庆
作者单位:1. 南昌大学机电工程学院,南昌330031;南昌航空大学航空制造工程学院,南昌330063;2. 南昌大学机电工程学院,南昌,330031;3. 南昌航空大学航空制造工程学院,南昌,330063;4. 包头北方铁路产品有限责任公司,包头,014030
基金项目:江西省科技厅攻关资助项目(Z02727) 王艳春:1980年生,博士生,主要从事碳纳米材料的研究 E-mail:36047@nchu.edu.cn 曾效舒:通讯作者,1954年生,教授,主要从事碳纳米复合材料的研究 Tel:0791-83969611 E-mail:zengxiaoshu@21cn.com
摘    要:以天然鳞片石墨为原材料,采用Hummers法成功制备了氧化石墨,并采用化学还原方法制备石墨烯薄膜材料,分别应用X射线衍射(XRD)、能谱分析(EDS)、拉曼光谱分析(Raman)、傅里叶变换红外光谱(FTIR)和扫描电镜(SEM)对氧化石墨和化学还原石墨烯薄膜的性能、结构和形貌进行了表征。实验结果表明,通过控制溶液的pH值为10可防止石墨烯团聚,石墨烯溶液的分散性非常好,碳氧比达到了8.8∶1,扫描电镜图片观察到了较薄的片层。通过XRD图谱可以看出,石墨烯薄膜比原始石墨的层间距变大。拉曼光谱表明,石墨烯薄膜相对氧化石墨的ID/IG值更大,样品在还原的过程中无序度增加。石墨烯薄膜的微观结构研究为其在超级电容器电极或重金属废水过滤膜等方面的应用提供了理论基础。

关 键 词:氧化石墨  石墨烯薄膜  化学还原  结构

Preparation and Structural Characterization of Chemically Reduced Graphene Films
WANG Yanchun,ZENG Xiaoshu,WEI Jiaqi,AO Zhiqiang and YANG Wenqing.Preparation and Structural Characterization of Chemically Reduced Graphene Films[J].Materials Review,2016,30(2):46-49.
Authors:WANG Yanchun  ZENG Xiaoshu  WEI Jiaqi  AO Zhiqiang and YANG Wenqing
Abstract:
Keywords:graphite oxide  graphene films  chemical reduction  structure
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