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辉弧共溅射Ar/N2流量比对TiN薄膜结构及硬度的影响
引用本文:林晶,钱锋,孙智慧,傅鹏飞.辉弧共溅射Ar/N2流量比对TiN薄膜结构及硬度的影响[J].真空科学与技术学报,2014(11):1173-1177.
作者姓名:林晶  钱锋  孙智慧  傅鹏飞
作者单位:哈尔滨商业大学包装科学与印刷技术工程实验室;深圳市天星达真空镀膜设备有限公司
摘    要:采用辉光弧光协同共放电混合镀方法在A3碳钢基体上沉积氮化钛薄膜,通过改变Ar/N2流量比,研究Ar/N2流量比对TiN薄膜结构及硬度的影响。X射线衍射谱图表明制备的TiN有明显的(111)晶面择优取向;Ti2p的X射线光电子谱谱峰拟合分析表明Ti2p1/2峰和Ti2p3/2峰均有双峰出现,可知氮化物中的Ti存在不同的化学状态,整个膜层是由TiN,TiO2,TiNxOy化合物组成的复合体系,Ar/N2流量比影响各成分的含量。对比硬度的变化和组成成分之间的关系发现,膜层硬度随着含TiN量的增多而增大,当Ar/N2流量比为3∶1时,硬度最大。

关 键 词:辉弧共溅射  Ar/N2流量比  TiN薄膜  硬度
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