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采用CF_4—H_2等离子体干法刻蚀SiO_2
作者姓名:胡骏鹏  张贵升  周春来
作者单位:骊山微电子公司,骊山微电子公司,北京市仪表局职工大学毕业 实习学生
摘    要:本文报导了二氧化硅的一种干法刻蚀工艺,采用RF发生器和平行板电极所激励的CF_4—H_2等离子体各向异性地刻蚀二氧化硅薄膜,所获得的图形尺寸为2μm宽,0.8μm厚。

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