基于STM32的仪表出厂检测系统设计 |
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引用本文: | 金黎明,丁家满,陈贵荣.基于STM32的仪表出厂检测系统设计[J].仪表技术与传感器,2022(6):83-87. |
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作者姓名: | 金黎明 丁家满 陈贵荣 |
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作者单位: | 1. 广州市轻工技师学院;2. 昆明理工大学 |
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摘 要: | 研发了一套基于STM32的仪表出厂检测系统。采用STM32+FPGA作为硬件平台,采集数显性仪表读数图像,对图像进行预处理,使用YOLO算法识别仪表读数,并将识别结果与标准源输出比较来判断仪表是否合格。完成仪表读数图像获取、读数识别、结果判断和自动剔除等任务,实现仪表出厂前自动检测。实验表明检测系统的平均正确率为98.23%,速度为1 233 s/次。为工业仪表的出厂检测方案设计提供了借鉴,提高了工厂自动化水平。
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关 键 词: | 仪表出厂检测 STM32 FPGA YOLO算法 |
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