高可靠集成电路典型失效模式类型与原因分析

鉴于高可靠集成电路在现代信息化电子设备应用领域的关键地位，为了保证高可靠集成电路充分发挥其特点、降低失效率，对高可靠集成电路典型失效模式类型进行研究。从集成电路选用、二次筛选、失效分析、破坏性物理分析等方面介绍高可靠集成电路的筛选、考核方式。以实际研究工作中遇到的引线键合失效及各种材料缺陷为例，详细讨论典型的失效模式，并以寿命浴盆曲线、老炼试验、分析程序、各类图表等工具加以分析，提出相应的解决方案。