fF量级在片小电容定标方法及不确定度评定 |
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引用本文: | 沙长涛,黄英龙.fF量级在片小电容定标方法及不确定度评定[J].工业计量,2022(S1):53-56. |
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作者姓名: | 沙长涛 黄英龙 |
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作者单位: | 中国电子技术标准化研究院 |
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摘 要: | 文章根据集成电路在片测试系统的组成结构和工作原理,以研制的集成电路fF (飞法)级在片小电容标准样片为基础,设计并制备了10 fF~500 fF系列在片小电容标准样片,处于国内领先水平。在有效减小电缆、探针影响的同时,研建了集成电路在fF级片小电容定值装置,研究了集成电路fF级在片小电容定标方法及不确定度评定。该方法可用于14 nm以下集成电路FinFET、 GGAFET器件及碳纳米管等新结构、新原理器件的研发过程中,确保超先进工艺制程研发中小于1 pF量级在片电容量值的准确可靠。
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关 键 词: | 集成电路 飞法 在片 电容 定标 不确定度 |
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