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责任编辑
分类号
杂志ISSN号
不同掺杂元素对 SCB 电爆特性的影响
作者姓名:
文雷鸣
刘恩良
李凯
周彬
孟海东
作者单位:
南京理工大学;航天科工六院41所;
摘 要:
为研究不同掺杂元素对半导体桥电爆特性的影响规律,利用电容放电发火系统,对硼掺杂SCB和磷掺杂SCB的临界发火电压、发火时间以及发火所消耗的能量进行了测试,并做了对比分析。结果表明:在尺寸相同、掺杂浓度相同的条件下,磷掺杂半导体桥比硼掺杂半导体桥临界发火电压低;相同发火电压下,掺杂元素对发火时间的影响较小,并且磷掺杂半导体桥的发火能量比硼掺杂半导体桥的高,说明磷掺杂SCB性能优于硼掺杂SCB。
关 键 词:
半导体桥
掺杂元素
发火时间
发火能量
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