大规模集成电路测试图案产生方法的研究 |
| |
引用本文: | 林雨.大规模集成电路测试图案产生方法的研究[J].半导体学报,1980(4). |
| |
作者姓名: | 林雨 |
| |
作者单位: | 中国科学院半导体研究所 |
| |
摘 要: | 一、引 言 大规模集成电路测试设备的核心是测试图案发生器.为发展我国大规模集成电路的测试设备,我们对于测试图案的产生方法进行了研究,提出了几点看法并用于研制大规模集成电路设备的实践.与北京无线电仪器厂合作研制了:
|
本文献已被 CNKI 等数据库收录! |
| 点击此处可从《半导体学报》浏览原始摘要信息 |
|
点击此处可从《半导体学报》下载全文 |
|