|
|||||
|
|
| 通过原子力显微镜(AFM)对HD DVD压模进行分析 | |
| 作者姓名： | Donald A.Chernoff David L.Burkhead Dick Verhaar Ton van de Vorst |
| 作者单位： | Advanced Surface Microscopy公司，Advanced Surface Microscopy公司，Singulus Mastering公司，Singulus Mastering公司 |
| 摘 要： | 众所周知,HD DVD和Blu-ray Disc同属于第三代 光存储产品。和第一、二代光存储产品——CD光盘 和DVD光盘相比,HD DVD和Blu-ray Disc光盘中的特 征结构更小,对误差的公差容量也更小。例如,HD DVD光盘的结构中,平均道间距一般为400±10nm(复 制盘上),而对单独一张盘片而言,道间距的公差可 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |