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| 温度循环下IGBT热阻退化模型的研究 | |
| 作者单位： | ;1.河北工业大学电气工程学院 |
| 摘 要： | 绝缘栅双极型晶体管(IGBT)在工作过程中经常要承受过热和较大的温度波动,当热损伤达到一定的程度时,模块极有可能出现失效,从而带来巨大损失。首先从理论上分析了IGBT的失效机理,然后利用热阻测试平台和加速老化实验平台测得IGBT热阻在温度循环冲击下的退化情况,最后根据实验结果建立IGBT热阻退化数学模型,得出热阻的退化规律。 |
| 关 键 词： | IGBT 热阻 温度循环 退化模型 |
Research on IGBT thermal resistance degenetate model under temperature recycle |
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