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| HART协议物理层设备的测试（II） | |
| 引用本文： | 林德秋.HART协议物理层设备的测试（II）[J].电子质量,2003(1):8-11. |
| 作者姓名： | 林德秋 |
| 作者单位： | 重庆工业自动化仪表研究所 400708 |
| 摘 要： | 本文介绍HART协议物理层设备的测试要求、测试设备、测试方法及测试时的一些特别说明。 |
| 关 键 词： | HART通信协议 物理层 测试方法 载波 主设备 从设备 |
Test of HART Protocol physical layer device(II) |
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| LIN De-qiu Chongqing Institute of Industrial Automation and Instrumentation.Test of HART Protocol physical layer device(II)[J].Electronics Quality,2003(1):8-11. | |
| Authors: | LIN De-qiu Chongqing Institute of Industrial Automation and Instrumentation |
| Affiliation: | LIN De-qiu Chongqing Institute of Industrial Automation and Instrumentation 400708 |
| Abstract: | Present the Test Requirement; Test Equipment; Test procedure and Special notes of HART Physical layer Tested device. |
| Keywords: | HART Communication protocol Physical layer Test procedure carrier master Device Slave Device |
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