| HART协议物理层设备的测试（II） |
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| 引用本文： | 林德秋. HART协议物理层设备的测试（II）[J]. 电子质量, 2003, 0(1): 8-11 |
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| 作者姓名： | 林德秋 |
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| 作者单位： | 重庆工业自动化仪表研究所 400708 |
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| 摘 要： | 本文介绍HART协议物理层设备的测试要求、测试设备、测试方法及测试时的一些特别说明。
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| 关 键 词： | HART通信协议 物理层 测试方法 载波 主设备 从设备 |
Test of HART Protocol physical layer device(II) |
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| LIN De-qiu Chongqing Institute of Industrial Automation and Instrumentation. Test of HART Protocol physical layer device(II)[J]. Electronics Quality, 2003, 0(1): 8-11 |
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| Authors: | LIN De-qiu Chongqing Institute of Industrial Automation and Instrumentation |
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| Affiliation: | LIN De-qiu Chongqing Institute of Industrial Automation and Instrumentation 400708 |
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| Abstract: | Present the Test Requirement; Test Equipment; Test procedure and Special notes of HART Physical layer Tested device. |
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| Keywords: | HART Communication protocol Physical layer Test procedure carrier master Device Slave Device |
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