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分类号
杂志ISSN号
Si/Si_(1-x)Ge_x应变层超晶格折叠声子能隙的精细测量
作者姓名:
张鹏翔
D.J.Lockwoo
J.M.Baribeau
H.J.Labbe
作者单位:
中国科学院物理研究所
摘 要:
采用高分辨喇曼光谱仪测量了Si/Si_(1-x)Ge_x应变层超晶格中折叠纵向声学支(FLA)声子的非弹性散射谱.通过改变激光波长得到了拆叠布里渊区边界附近FLA声子的色散曲线,并第一次获得了四级FLA声子带隙.将RRytov理论和精确测量结果进行了比较,讨论了Rytov理论的应用范围及限制,发现在拆叠布里渊区边界上Kytov理论与实验有明显分歧.高分辨喇曼谱还揭示出FLA声子峰的精细结构和系列卫星线,讨论了产生这些精细结构的机制以及用于材料标识的可能性.
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