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| 非零色散位移光纤与光纤带的熔接技术 | |
| 作者姓名： | 徐乃英 |
| 作者单位： | 信息产业部电信科学技术第一研究所,上海,200032 |
| 摘 要： | 阐明了光纤的的几何特性,特别是在熔接之后的模场直径,是影响光纤接头损耗的主要因素.分析了熔接过程对光纤模场直径的影响,对熔接非零色散位移光纤时所用的熔接条件进行了优化.在单纤、2-芯、4-芯和 8-芯光纤带上进行了实验,证实了用优化的熔接程序进行熔接的接头损耗有明显的降低. |
| 关 键 词： | 标准单模光纤 非零色散位移光纤 几何特性 模场直径 熔接程序 接头损耗 |
| 修稿时间： | 2002-07-01 |
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